建築シーリング材のウェザリングによる深さ方向の劣化の化学的分析を用いた研究

抄録

建築シーリング材の深さ方向のウェザリングによる劣化を調べるため、化学的分析を用いた検討を実施した。変成シリコーン系建築シーリング材を静的条件のＥＭＭＡＱＵＡ耐候性試験で光照射した試験片の断面を、顕微鏡による形態分析、ＡＴＲ－ＩＲによる組成分析、ＥＤＸによる元素分析を用いて観察した。その結果、（１）光照射面の表面付近で有機成分の減少し、クラックが発生していること、（２）クラック等の劣化現象は表面付近のみで生じて、内部には変化が及んでいないこと、(3)ポリアクリレートの併用によりこの進行が抑制されることを見出した。