素粒子ミュオンを用いた特性X線分析法の開発　 〜地球惑星試料分析の実用化にむけて〜

抄録

負ミュオン(μ-粒子)は、電荷-1、質量が電子の約200倍の不安定素粒子である。ミュオンによる元素分析の可能性は、50年ほど前に指摘はされていたが、近年、大強度のミュオンビームの生成に成功したことにより、μ粒子線を用いた非破壊元素分析が現実的になってきた。 [1]軽元素を含む全元素同時分析、[2]深度プロファイル分析(封入したサンプルの分析)、[3]同位体分析、[4]化学状態分析、を合わせもつ非破壊ミュオン特性X線分析は、地球惑星科学において全く新しいユニークな「プローブ」となりうる。学会当日は、我々が取り組んでいるミュオン特性X線分析の現状と今後の展望についてご紹介したい。