超伝導転移端検出器(TES)-マイクロXRF-XAFSによるCs濃集粒子(CsMP)中のCsの分布および化学種解析

抄録

福島第一原発事故で原発から放出された放射性セシウム(Cs)を濃集した粒子(CsMP)は、事故時の原子炉内の物理化学状態を反映する物質として、また環境中に沈着後の放射性Csのホストとなる物質として重要であり、多くの研究がなされている。CsMP中のCsの分布や化学状態を知る上では、電子顕微鏡、µ-XRF、蛍光XAFSなどの手法が有効である。しかし、半導体検出器(SDD; エネルギー分解能: 130 eV程度)などによるエネルギー分散型で特性X線・蛍光X線(XRF)を検出する方法では、微量なCsのL線と主成分であるCaやTiのK線が干渉し、Csを同定することが困難である。そこで本研究では、超伝導転移端センサー(TES)検出器を用いたXAFS法およびµ-XRF-XAFS法により、Type-B粒子中のCsの化学状態や分布状態を調べた。