電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌)
Online ISSN : 1348-8155
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<電気回路・電子回路>
ゲーテドクロックシステムへのNBTI起因デバイス劣化のインパクト
黒川 敦星 誠渡邊 眞之
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2014 年 134 巻 3 号 p. 355-361

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抄録
On the system with gated clock, NBTI causes the unbalanced degradation in the threshold voltage of PMOSFETs. In this paper, we clarify the impact of NBTI degradation on timing characteristics such as setup time, hold time and clock skew. We demonstrate that the maximum operating frequency regarding setup time violation becomes worse, hold time constraint becomes better, and clock skew after a gated clock cell operates better with stopped time.
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© 2014 電気学会
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