電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌）
Online ISSN : 1348-8155
Print ISSN : 0385-4221
ISSN-L : 0385-4221
ダイナミックRAMにおけるテスト時間短縮技術
古山 透, 大澤 隆
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1987 年 107 巻 3 号 p. 265-270

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