電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌)
Online ISSN : 1347-5525
Print ISSN : 1341-8939
ISSN-L : 1341-8939
特集解説
レジストプロセスの基本
佐々木 実
著者情報
ジャーナル フリー

2011 年 131 巻 1 号 p. 2-7

詳細
抄録
Basics of resist process are described including the practical techniques. The proximity patterning is cost-effective process having the potential realizing arbitrary 2-3μm width pattern. After explaining the standard processes and mechanisms, some issues in MEMS region is described.
著者関連情報
© 電気学会 2011
前の記事 次の記事
feedback
Top