電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌)
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研究開発レター
水素ラジカル処理した銅表面のX線光電子分光法(XPS)による酸化挙動解析
申 盛斌日暮 栄治古山 洸太山本 道貴須賀 唯知
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ジャーナル 認証あり

2019 年 139 巻 2 号 p. 38-39

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抄録

Hydrogen radical and argon fast atom beam (FAB) treatments were used to remove the oxide layer of copper metal. After the treatments, the copper samples were exposed to air atmosphere (~4 h) at room temperature to evaluate the re-oxidation behavior. Compared to argon FAB treatment, hydrogen radical treatment promotes the formation of copper hydroxide [Cu(OH)2] and suppresses the formation of cuprous oxide (Cu2O) formation.

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© 2019 電気学会
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