日本画像学会誌
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特集論文
画素サイズ推定による解像性評価方法
笹原 慎司稲垣 敏彦
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2000 年 39 巻 3 号 p. 210-216

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抄録
1次元方向に階調がランダムに変化するランダムパターンを用いてプリンタシステムの空間周波数応答から画素サイズを推定することにより,プリンタ解像性指標を算出する新規解像性評価方法を開発した.本方法では,画素が表現できる階調数を考慮してその大きさを比較することにより,記録方式非依存に解像性比較を行うことが可能になる.また,印刷シミュレーション画像および各種プリンタ出力画像の鮮鋭さは,本方法により求めた画素サイズとハイライトおよび中間調部のコントラストの3変数により表わすことができることを示した.
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© 2000 一般社団法人 日本画像学会
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