DEMによる現像プロセス内粒子挙動シミュレーション

抄録

本稿では，これまで筆者らが開発を進めてきたDEMによる，2成分電子写真システム現像部におけるシミュレーション結果を簡単に紹介した．オーガスクリューにおける粒子攪拌挙動や，パドル攪拌プロセスにおけるトナー帯電量の影響．また，現像ニップ周りの磁界が磁気ブラシ挙動に及ぼす影響 (タッチダウンプロセス) や，2成分現像プロセスでの，帯電量が感光体上の潜像への現像量に及ぼす影響について報告した．