電子写真感光体の表面電位挙動，潜像形成過程の可視化技術

抄録

電子写真技術の電子写真感光体廻りの重要プロセスにおいて，その中心に位置する感光体の表面電位を正確に計測することは，画像形成プロセス設計において非常に重要である．さらに高速化，高画質化の技術課題解決においては高応答性や微小領域における表面電位計測の性能向上が求められている．本報では，高画質化と画質安定化において重要な要素である感光体の電位変動挙動と潜像プロファイルの可視化・計測技術と，得られた測定結果をPIDC (photo-induced decay characteristic) シミュレーションにより比較・検証した結果について解説する．