抄録
一般化表面エネルギに基づくトルクバランス方程式より、基板界面領域とバルク内での液晶ダイレクタの動的・静的分布を正確に表現できる。本方程式に基づく理論解析より、Weak Anchoring(WA)条件下のSTNデバイスにおいて、種々の電気光学特性のヒステリシス現象が予測される。この現象を実験的に確認するため、偏光UV光により配向制御できるPolyVinyl Cinnamate(PVCi)を用いて、WA条件の制御を試みた。トルクバランス方程式より、一般化表面アンカリングエネルギと飽和閾値との関係が導かれる。この関係より、PVCi膜上での一般化表面アンカリング密度を測定し、紫外光の照射時間によりWA条件を持つ表面エネルギを制御できる。
