抄録
液晶セルにおける表面配向のアンカリングの発生機構については十分に解明されていない。本研究では平均場理論に基づいて、配向秩序度を弾性定数と結びつけ、表面アンカリングの発生機構の解明を試みた。この結果、配向膜は数nmの厚さの範囲の液晶層の配向秩序度を変化させ、弾性定数を変化させている。これによって生じた容易軸からのずれにより実効的な配向力(アンカリング強度)の大きさが決まることが明らかにした。また、これによりS字形のねじれ配向分布を導出でき、この結果、従来測定していた配向力(アンカリング強度)は実効的な配向力であることを理論的に示すと共にこの関係を実験によってはじめて実証した。
