CV測定による高分子分散型液晶パネルのヒステリシス評価

抄録

近年、高精細でかつ大画面化が可能なリアプロジェクションテレビに対する需要が高まってきており、今後も大きな成長が期待できる。その一方で表示性能に対する要求も厳しさを増しており、特に高輝度化対する要望が強い。我々は、次世代の高輝度リアプロジェクシヨンテレビを目標に、光利用効率が高く、高輝度化が可能な高分子分散型液晶パネル(以下、PDLCパネル)の開発に取り組んでいる。PDLCパネルで発生するヒステリシスは、階調表示不良の原因となっており、実用化にはヒステリシス低減が必須である。我々は、CV(電圧-静電容量)測定によるヒステリシス評価法を新たに開発し、低ヒステリシス化の指針を得たので報告する。