半影バックライト法によるx線イメージング

抄録

超高圧状態における、物質の状態方程式(EOS)は核融合や宇宙物理、その他様々な分野で興味の対象となる。水素などのEOS精度を向上させるためには、測定精度(空間分解能)を極端に上げる必要がある。そのため、新しい計測手法の確立が必須の課題であり、本研究ではX線バックライト手法として半影X線バックライト法を提案し、原理実証実験と画像解析を行った。実験により得られたデータは逆畳込みをはじめとするフーリエ解析のプロセスを経て、必要な画像の再構成に成功した。