映像情報メディア学会技術報告
Online ISSN : 2424-1970
Print ISSN : 1342-6893
ISSN-L : 1342-6893
セッションID: IST2008-59
会議情報
微細MOSデバイスのランダム・テレグラフ・シグナル・ノイズ(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
須川 成利
著者情報
キーワード: RTSノイズ, アレイTEG
会議録・要旨集 フリー

詳細
PDFをダウンロード (1036K)
メタデータをダウンロード RIS形式

(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)

BIB TEX形式

(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)

テキスト
メタデータのダウンロード方法
発行機関連絡先
抄録
微細MOSデバイスで発生するランダム・テレグラフ・シグナル(RTS)ノイズに関して、大規模アレイTEGを用いて、ゲート絶縁膜材料依存,アンテナ比依存,ソースドレインを入れ替えた際のRTSノイズ,およびゲート高電界ストレスを印加した後のゲートリーク電流とドレインソース電流のRTSノイズの相関を測定したのでその結果について報告する.
著者関連情報
© 2008 一般社団法人 映像情報メディア学会
前の記事 次の記事
お気に入り & アラート

閲覧履歴
前身誌

テレビジョン学会技術報告

このページを共有する
feedback
 Top