2V有機CMOSとシリコンCMOSを用いたEMI測定用風呂敷の原理検証(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)

抄録

電子機器が高性能化され、高密度に部品が実装されるのに伴い、EMIの発生源を特定するのが難しくなってきている。この問題を解決するために、電子機器を包むようにしてその表面の磁界及び電界の分布を測定するツール「EMI測定用風呂敷」の原理検証を行ったので報告する。