液晶材料の閾値電圧,弾性定数比及び誘電率比の高精度測定法の確立(発光型/非発光型ディスプレイ)

千葉 祐介; 大野 友嗣; 石鍋 隆宏; 宮下 哲哉; 内田 龍男

doi:10.11485/itetr.34.2.0_99

セッションID: IDY2010-25

DOI https://doi.org/10.11485/itetr.34.2.0_99

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液晶材料の閾値電圧,弾性定数比及び誘電率比の高精度測定法の確立(発光型/非発光型ディスプレイ)

千葉祐介, 大野友嗣, 石鍋隆宏, 宮下哲哉, 内田龍男

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キーワード: 液晶, 高精度測定, 閾値電圧, 弾性定数比, 誘電率比, 配向膜容量

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抄録

電圧無印加時のホモジニアス配向液晶セル内において生じる干渉の入射角依存性を利用して,液晶材料の屈折率を高い精度で測定を行い,この結果を基に電圧印加時における液晶分子の配向分布を求めることにより液晶材料の閾値電圧,弾性定数比,誘電率比を高精度に測定する方法を考案し,実験により本測定法の妥当性を確認した.

責任著者(Corresponding author)

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