マルチタップ電荷変調 CMOSイメージセンサと周波数領域解析を用いた距離・蛍光寿命・生体光散乱計測

香川 景一郎; 宮城 亮太; 村上 裕太; ソ ミンウン; 安富 啓太; 川人 祥二

doi:10.11485/itetr.41.37.0_35

情報センシング

セッションID: IST2017-68

DOI https://doi.org/10.11485/itetr.41.37.0_35

会議情報

主催: 情報センシング

会議名: 情報センシング

開催日: 2017/11/13

マルチタップ電荷変調 CMOSイメージセンサと周波数領域解析を用いた距離・蛍光寿命・生体光散乱計測

*香川景一郎, 宮城亮太, 村上裕太, ソミンウン, 安富啓太, 川人祥二

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キーワード: 電荷変調, CMOSイメージセンサ, 周波数領域, 光飛行時間, 蛍光寿命, 光散乱

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抄録

本稿では，近年性能向上が目覚ましい時間分解 CMOSイメージセンサと周波数領域の信号解析を用いた医用生体イメージングについて述べる．典型的な応用として，蛍光寿命イメージング，光飛行時間に基づく 3次元形状計測，散乱・吸収などの生体の光学パラメータのイメージングに注目する．これらについて，プロトタイプシステムとその初期的な結果を示す．

責任著者(Corresponding author)

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