自動制御連合講演会講演論文集
第49回自動制御連合講演会
セッションID: os17
会議情報

多重スライス画像によるムラの定量化
*谷口 和隆*上田 邦夫*大西 浩之*辰巳 昭治
著者情報
キーワード: ムラ, 検出, 二値化, 定量化, 検査
会議録・要旨集 フリー

詳細
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2006
前の記事 次の記事
feedback
Top