Journal of Atmospheric Electricity
Print ISSN : 0919-2050
Surface charging mechanism and scaling law related to earthquakes
Akihiro Takeuchi, Hiroyuki Nagahama
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キーワード: surface charge density, Si-Si02 system, Hypothetical Event Analysis, hole and electron trapping centers
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2002 年 22 巻 3 号 p. 183-190

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