主催: 日本学術会議 機械工学委員会・土木工学・建築学委員会 合同IUTAM分科会
共催: 応用物理学会, 化学工学会, 地盤工学会, 土木学会, 日本応用数理学会, 日本風工学会, 日本機械学会, 日本気象学会, 日本計算工学会, 日本建築学会, 日本原子力学会, 日本航空宇宙学会, 日本材料学会, 日本地震工学会, 日本数学会, 日本船舶海洋工学会, 日本伝熱学会, 日本物理学会, 日本流体力学会, 日本レオロジー学会, 農業農村工学会
本研究では、T型マイクロ流路内を層流状態で流れる液-液二相流の不安定性を調べた。液-液界面が直線状の層状流れ、液-液界面が波型の層状流れ、液-液界面が傾斜している層状流れ、環状流れの4つの代表的な流れを観察した。層状流れはLockhart-Martinelli法により特徴づけられ、ボイド率についてはChisholmの近似かでWangの近似で表現できることがわかった。環状流れで得られたボイド率はFujiiの式で液-液界面の粗さを示すパラメータB=1の場合と良い一致を示した。このことは環状流れにおいて液-液界面は表面波がなく平滑であることを示している。結果として、流路の大きさ、粘度、表面張力が流れの不安定性に影響することがわかった。