光ヘテロダイン干渉法によるコンデンサマイクロホン膜の振動観測

抄録

コンデンサマイクロホンの感度特性については古くから理論的にも良く研究されている。ところが、理論的な取り扱いの基礎となる膜の振動姿態を実際使われているコンデンサマイクロホンについて直接観測したという報告はない。本論文では周波数安定化横ゼーマンレーザを光源として用いたドプラ偏移周波数検出型光ヘテロダイン干渉計を構成し、実際使われている1/2インチコンデンサマイクロホンの音場型と音圧型の2種類について、膜の全面の振幅特性と位相差を測定した。その結果、周波数が高い場合に膜は可成り複雑な振動をすることが明らかになり、更に振幅の等高線図から振動には背極上の孔が強く影響することが示された。