ソフトウェアの品質向上・確保はソフトウェア開発企業にとって重要な課題であり,多くの企業でメトリクスを用いた品質の見える化・予測が行われている。当該プロジェクトの欠陥摘出履歴に基づいた品質予測を行う手法として、単位時間あたりの欠陥摘出率が概ねレイリー分布に従うことを利用したレイリーモデルがある。しかしながら,レイリーモデルでは,パラメータ推定を行う際の初期値を人手で設定しなければならない,プロジェクトによっては欠陥摘出率がレイリー分布に従わず予測できないといった問題がある。そのため,過去プロジェクト実績から得られた欠陥密度とワイブル分布を用いて品質予測を行う手法を検討した．
