低温走査レーザ顕微鏡による高温超伝導体のマルチフィラメント形状のフロー損失の可視化

電気関係学会九州支部連合大会講演論文集

平成18年度電気関係学会九州支部連合大会（第59回連合大会）講演論文集

セッションID: 04-1A-11

DOI https://doi.org/10.11527/jceeek.2006.0.27.0

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主催: 電気関係学会九州支部連合会

低温走査レーザ顕微鏡による高温超伝導体のマルチフィラメント形状のフロー損失の可視化

ズルキフリビンティズリスティアナ, 藤原隆, 木須隆暢, 円福敬二, 衣斐顕, 山田穣, 塩原融, 渡部智則, 鹿島直二, 森匡見, 長屋重夫

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キーワード: 電気電子材料

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