LSIの大規模化・微細化等に伴いLOC(Launch-on-Capture)方式の実速度スキャンテストにおける歩留り低下が問題となってきている．その要因の１つとして，LOC方式のテストに伴う励起信号値遷移LSA(Launch Switching Activity)が多いことで過度な電圧降下が発生することが挙げられる．LSAの削減にはテスト集合の変更が有効的であり，歩留り低下に影響を与えやすい部分(クリティカルエリア)に着目した電圧降下の安全性チェックとテスト集合の内容を変更によりLSAを削減する，CAT(Critical Area Targeted)方式を提案，実回路を用い、その有効性を示す．
