抄録
太陽光発電システムの設置件数増加に伴い、太陽電池モジュールに長時間部分影が生じると、そのセルの温度が上昇し、表面樹脂の変形や変色が生じ、セルが故障してしまった 事例の報告もあり問題となっている。セルに結晶欠陥がある場合、セル内部においてキャリアが再結合するため、ホットスポットの原因になる。そしてホットスポットが発生し、温度が上昇したセルは逆方向時のリーク電流が増加することが明らかになっている。今現在のホットスポットの測定方法は多くの時間を要する。そこで本研究では、この物理現象を利用してホットスポットの可能性を簡易的に素早く診断する装置を開発し、その有効性の検討を行った。