太陽光発電システム（以降、PVS）は固定価格買取制度を背景に急速に普及している。しかし、普及に伴い、発電運用上でシステムの故障や事故が近年増加している。本研究では、近年増加しつつある雷によるPVSの故障の中でも誘導雷によってPVSが故障に至るメカニズムの解明を目的として研究を行っている。特に、PVモジュール内にあるバイパスダイオードは、本来、部分影や配線不良などによる発電不能クラスタによる出力低下を改善するために設置されているが、雷故障モジュールにおいては多くのバイパスダイオードの故障がみられた。本報告では、誘導雷サージ電圧によってバイパスダイオードの故障特性を明らかにし、誘導雷によるPVSの故障機構を検討した。
