制御周期に対して数倍長い測定周期を持つ制御系に関する研究

抄録

測定周期の長い測定系を用いて高速な制御が行えると、低速な測定系を用いることができるので有用である。そこで測定系のサンプリング周波数の数倍の周波数で制御を行うために、制御に必要な不足する測定データを推定して用いる事を考える。本研究では、現代制御理論を用いて、オブザーバにより不足する測定値を推定し、測定周波数の４倍の速さで倒立振子の倒立制御が行えることを確認したので報告する。またパラメータの設定の違いによる制御への影響についても検討する。