導電性高分子薄膜の熱電特性に関する異方性評価装置の開発

抄録

熱電材料の性能は無次元性能指数ZTで評価される。ZTはゼ―ベック係数S、電気伝導率σ、熱伝導率κ、絶対温度Tを用いて、ZT=（（S^2 σ）⁄κ）Tで表すことができる。本研究では、配向性導電性高分子薄膜に着目している。配向膜では主鎖方向に対しては電気伝導性や電荷による熱伝導性も高い。一方、側鎖方向は電気伝導やフォノン振動による熱伝導は低下する。ゆえに、配向膜の熱電特性の異方性を調べる実験装置が必要である。そこで、真空下で、配向膜の中心から円形状に広がった温度勾配を与えて、その際に生じる熱起電力の計測は中心部の電極と外周に円形状に配置した電極を用いる。発表では、開発途中の装置及び動的FTM法で成膜したP3HT配向膜について報告する。