アノード分極法を適用して，フレキシブルフラットケーブル（FFC）の導体部のめっき層を対象に，ピンホール欠陥の定量的な評価法を開発した．当該の導体部は，銅基板上へのニッケルめっき及び仕上げ用の金めっきにより，Cu|Ni|Auといった3層構造をとる．製品の品質保証の観点から金めっき層のピンホー欠陥の計測条件を検討した結果，5 Mの硫酸を電解液としたアノード分極法により，定量的に0.05％程度までのピンホール欠陥率を評価できた．金めっきを厚くするとピンホールは減少する一方，コスト面の問題が生じる．ただし金めっきが薄くとも，下地ニッケルめっきの品質を高めると金めっき層のピンホールも減少する．そこでニッケルめっきの品質改善の指標を得るために，金めっきを施す前の“素材”（Cu|Ni）に対しても，ピンホール欠陥の計測条件を検討した．硫酸溶液中では，下地の銅よりもニッケルの溶解反応の方が起こりやすく，ピンホールの評価はできなかった．電解液を見直した結果，7 M KOH中でアノード分極測定を行うことによって，ニッケルの妨害を受けずに，ニッケルめっき層の0.01％レベルのピンホール欠陥率を定量化できた．
