低密度ポリエチレンの耐候性試験機による劣化挙動の比較

三輪 貴志; 竹下 幸俊; 赤毛 勇一; 渡辺 正満; 高谷 雅昭; 澤田 孝

doi:10.3323/jcorr.64.139

論文

低密度ポリエチレンの耐候性試験機による劣化挙動の比較

三輪貴志, 竹下幸俊, 赤毛勇一, 渡辺正満, 高谷雅昭, 澤田孝

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キーワード: 低密度ポリエチレン, 紫外線, 劣化, 分子量, 促進耐候性試験, 屋外暴露, 架橋, 分子鎖切断, 高分子量

ジャーナルフリー

2015 年 64 巻 4 号 p. 139-144

DOI https://doi.org/10.3323/jcorr.64.139

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抄録

耐候性試験装置および屋外暴露で低密度ポリエチレンを劣化させ，強度・伸び，IRスペクトル，分子量分布の変化挙動を分析した．屋外劣化試料と最も近い分子量分布の変化挙動を再現できたのは紫外蛍光ランプ式促進耐候性試験装置（UVB-313ランプ）を用いて高温で劣化させた試料であった．高温では分子鎖切断よりも分子間の架橋が促進されるため，屋外暴露同様の高分子量成分の増加を再現できたことが原因と考えられる．

責任著者(Corresponding author)

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