日本作物学会紀事
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X 線マイクロCT スキャナによる日本型イネ下位枝梗着生部における穂軸維管束走向の非破壊的測定
前田 英三三宅 博
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2009 年 78 巻 3 号 p. 382-386

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抄録

X線マイクロCTスキャナを用いて,コンピュ-タ断層撮影(computed tomography : CT)を実施し,イネの穂軸の内部画像を測定・構成した.イネの穂軸内に存在する大維管束と小維管束の走向を,下位枝梗着生部につき,穂軸の下部から上部に向けて追跡した.大維管束は穂軸内で環状に配置されているが,1本の大維管束が穂軸を走向中に2本の大維管束に別れる場合があった.また隣接する大維管束と合体したのち,環状配置から離れて,着生する枝梗内に移る場合が観察された.さらに,1次枝梗着生部で特定の1本の大維管束が周辺に移動したのち,枝梗内に移り走向した.

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© 2009 日本作物学会
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