日本作物学会講演会要旨集
第232回日本作物学会講演会
会議情報

主催: 日本作物学会

環境ストレス
開花後に過湿土壌ストレスを受けたコムギ子実の内部微細構造:
走査顕微鏡による観察
*Md. Alamgir Hossain, 濱田 朝美, 荒木 英樹, 田中 秀平, 高橋 肇
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キーワード: コムギ, 登熟, 走査型電子顕微鏡, 開花後の過湿土壌ストレス, デンプン粒
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p. 160

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