米国・日本・韓国における半導体企業の競争力の診断

—経済システム（マクロ）・産業システム（セミ・マクロ）・経営システム（ミクロ）の関係性分析を踏まえて—

抄録

従来，競争力診断の主な特徴として，①競争力診断の対象：企業（ミクロ）レベル，②競争力診断の技法：SWOT分析，経験曲線など競争戦略の策定技法を採用，③静態的な競争力診断：一定時点の要因別診断など，の3点が挙げられる。しかしながら，半導体産業のように，国家の運命を左右する産業において，上述した従来の経営診断方法論やフレームワークでは限界がある。本論文では，経済システム（マクロ）・産業システム（セミ・マクロ）・経営システム（ミクロ）の関係性分析を踏まえた競争力診断について，半導体産業に特化して，仮説を設定して分析した。