固有ジョセフソン接合における電荷結合のキャリア濃度依存性

抄録

Bi2212固有ジョセフソン接合では、第2スイッチにおける巨視的量子トンネル確率の増大が観測され、接合間の電荷結合によるものであると著者らにより指摘されている。我々は電荷遮蔽長を与えるキャリア濃度依存性を評価するために、臨界電流密度の異なる接合を用いてトンネル確率を測定した。その結果臨界電流密度の増加に伴って、実効温度が減少することが見いだされた。発表ではこの現象における電荷結合の影響について議論する。