主催: 一般社団法人日本物理学会
会議名: 2017年度日本物理学会第72回年次大会
開催日: 2017/03/17 - 2017/03/20
我々は、太陽観測において重要である鉄多価イオンや核融合プラズマ計測において重要であるタングステン多価イオンのEUVスペクトルを中心にEBITで観測してきた。しかし、研究を進める中でVUV領域での発光線も発光のメカニズムを理解する上で重要であることがわかってきた。今回VUV領域の分光器を立ち上げEUV領域の数nmから可視領域の1000nm程度まで連続的にスペクトルを同時に計測するシステムを構築したので、詳細について当日報告する。