抄録
【背景・目的】一般に重粒子線の作用機構では直接作用が重要で、間接作用の寄与は小さいとされている。しかし我々は、重粒子線照射細胞においても間接作用による代表的なDNA損傷、8-hydroxy-2'-deoxyguanosine (8-OHdG)が有意に検出される事及び同一LETにおける粒子種による生成量の相異がある事から、高LETでも間接作用の寄与が無視できないことを明らかにした（2007年度本大会）。また細胞内8-OHdGの生成分布の観察に免疫染色が有効である事も報告した（2008年度本大会）。本研究では上記の粒子種による生成量の相異の原因を間接作用の粒子トラック近傍での広がりの観点から明らかにするため、8-OHdG生成分布のLET依存性とその検出限界を検討した。
【材料・方法】ヒト肺癌由来細胞A549をカバーガラス上に培養し試料とした。放医研HIMACにより供給された炭素線（LET 13keV/μm）、鉄線(同440keV/μm)及び58kVpX線照射は8-OHdGの修復を抑制するため、2°C下で行った。線量は0.2～50Gyの範囲で照射した。試料は固定後、希塩酸により抗原賦活化処理し、FITC標識抗8-OH-Gua抗体（Kamiya Biomedical Co., USA）で染色した。また同時に陽性対照としてフェントン反応処理した試料を染色した。
【結果・考察】炭素線照射された細胞内8-OHdGは5Gyにおいて有意に観察され、その生成分布は細胞核全域にわたり均一であった。同じくX線誘発された細胞内8-OHdGも均一な分布を示した。この両者に違いはなかった。一方、鉄線照射された細胞内8-OHdGは5Gyで有意に観察されたが、全体の蛍光強度は炭素及びX線に比べ弱く、また生成分布は若干不均一にもみえた。現在、炭素線と鉄線以外のLET条件についても検討を行っている。
