Journal of Surface Analysis
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表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか？　Ⅲ．XPSおよびAESによる表面定量分析法
田沼 繁夫
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2005 年 12 巻 3 号 p. 357-362

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抄録
XPSやAESによる表面定量分析においては「信号の減衰」を如何に表すかは重要である．そこで，今日的な感度係数法ではどのように信号のマトリックス効果を取り扱っているかについて解説する．
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© 2005 一般社団法人　表面分析研究会
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