Journal of Surface Analysis
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  • 陰地 宏, 村井 崇章, 柴田 佳孝, 田渕 雅夫, 渡辺 義夫, 竹田 美和
    2020 年 26 巻 3 号 p. 228-244
    発行日: 2020年
    公開日: 2021/04/07
    ジャーナル フリー
    あいちシンクロトロン光センターのBL6N1は1.75 – 6 keV のエネルギー範囲のX線による吸収分光及び光電子分光が可能なビームラインである.BL6N1では2018年に二結晶分光器を更新し,X線ビームのエネルギーと強度の安定性が向上した.本稿では,BL6N1のX線光学系やXAFS・光電子分光実験装置の概要と,二結晶分光器更新以降のビーム性能向上を含めたビームラインの最新状況について解説する.
  • 川﨑 忠寛
    2020 年 26 巻 3 号 p. 245-253
    発行日: 2020年
    公開日: 2021/04/07
    ジャーナル フリー
    環境電子顕微鏡(Environmental Transmission Electron Microscopy; ETEM)は, 透過型電子顕微鏡(TEM)を用いた動的観察手法のひとつである.通常のTEMでは,電子ビームの残留ガス分子による散乱を抑制するため,試料は真空下に置かれることになる.これに対して,ETEMでは,ガス雰囲気や液中など材料が実際に動作する状況下における状態を直接観察することが可能である.本稿では,2つのタイプのETEMについてその原理や特徴を概説する.また,応用研究の例として,金ナノ触媒反応のガス雰囲気下その場観察,およびグラフェンを用いた液中観察の結果を示す.
  • 瀬木 利夫
    2020 年 26 巻 3 号 p. 254-259
    発行日: 2020年
    公開日: 2021/04/07
    ジャーナル フリー
    二次イオン質量分析法(Secondary Ion Mass Spectrometry: SIMS)は,高感度に元素分布のイメージングや深さ方向分析ができることから,Si中の不純物分析のように半導体分野などで多く利用されてきた.近年になり, MeV領域のエネルギーを持つ高速重イオンを一次ビームとして用いるMeV-SIMS が開発され,有機材料の分析も可能となり,固液界面分析やオペランド分析に向けて低真空あるいは大気圧下でのSIMS分析も可能となってきている.ここでは、固液界面分析に向けて、湿潤He環境下においてSi基板上の安息香酸水溶液を次第に乾燥させながら連続SIMS測定した結果を示す.
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