Journal of Surface Analysis
Online ISSN : 1347-8400
Print ISSN : 1341-1756
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解説
固体表面上有機薄膜のXPS測定とその応用
鈴木 昇
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2009 年 16 巻 1 号 p. 12-19

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抄録

 X線光電子分光法は固体材料の表面分析に広く利用されている.ここでは,ラングミュア-ブロジェット膜や自己組織化膜といった有機薄膜の,著者らによる測定結果とそのスペクトルの解析技術について紹介する.

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© 2009 一般社団法人 表面分析研究会
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