Journal of Surface Analysis
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エクステンディド・アブストラクト(レビュー)
量子ビームで覗くコンタクトレンズのナノワールド表面を可視化する
伊藤 恵利 河合 純希山本 勝宏
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2025 年 32 巻 1 号 p. 39-42

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抄録
筆者らは,放射光や中性子といった量子ビーム施設において各種プローブを使用した表面分析により,コンタクトレンズ表面の化学構造の解明を進めており,新たなレンズ表面設計への応用に期待される知見を得てきた.一方,この研究過程で,各表面分析手法における分析深さを把握する重要性と,分析深さの違いを活かした分析のコンタクトレンズの表面分析における有効性も顕在化した.本稿では,硬X線光電子分光のコンタクトレンズに対する分析深さの検討と,表面敏感な転換電子収量(CEY)法とバルク敏感な部分蛍光収量(PFY)法の2つの測定モードを活用したXAFS測定によるコンタクトレンズの分析を,複数の研究施設にわたって実施した結果について報告する.
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