Journal of Surface Analysis
Online ISSN : 1347-8400
Print ISSN : 1341-1756
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エクステンディド・アブストラクト
XAFS測定の原理と分析深さ
陰地 宏
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2025 年 32 巻 1 号 p. 29-38

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抄録
本稿は，第63回表面分析研究会のテーマ講演「XAFSの分析深さ」の導入として筆者が講演した内容をまとめたものである．前半では，XAFSの基本的な測定手法である透過法，蛍光収量法及び電子収量法の原理と特徴について述べた．特に蛍光収量法で問題となる厚み効果（自己吸収効果）について，簡単な数理モデルを用いて詳しく解説した．後半では，部分蛍光収量法とオージェ電子収量法における分析深さを上記と類似のモデルで見積もり，過去に報告された全電子収量法の分析深さの値をグラフにまとめた．
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