抄録
表面の物理·化学的特性を反映する仕事関数をナノスケール領域で評価·比較するために、走査型トンネル電子顕微鏡を応用した測定(Apparent Local Barrier Height : LBH)での、測定条件(特に探針-サンプル間印加電圧)と得られる結果についての検討を行った。LBHへの電圧の効果は、電流-電圧(I-V)特性と相関があることが明らかになった。従って、LBH測定を行ったら、その測定と同じ探針-サンプル間距離でのI-V測定を行い、測定で用いた電圧がI-V 特性でのどの電圧領域にあるかを調べなければならないことが明らかになった。
