X線光電子分光法における有機化合物のX線照射試料損傷評価法の開発. ラウンドロビン試験結果.

田沼 繁夫; 麻生 昭弘; 小泉 あゆみ; 鈴木 峰晴; 當麻 肇; 橋本 哲; 三浦 薫

doi:10.1384/jsa.9.501

論文

X線光電子分光法における有機化合物のX線照射試料損傷評価法の開発. ラウンドロビン試験結果.

田沼繁夫, 麻生昭弘, 小泉あゆみ, 鈴木峰晴, 當麻肇, 橋本哲, 三浦薫

著者情報

ジャーナルフリー

2002 年 9 巻 4 号 p. 501-509

DOI https://doi.org/10.1384/jsa.9.501

詳細

抄録

ラウンドロビン試験を行い, 以下のことを明らかにした. 基板に穴のある特殊ホルダーを使えば, 単色化X線源を有するXPSでもPVC, NC-CA試料のClおよびN分に関する分解反応係数を求めることにより, 有機物試料損傷評価は可能である. このときの両者の反応係数の比は装置に関係しない値になり, 0.174 (±0.015)であることが明らかになった. これにより有機物のXPS分析において, 損傷量を評価できるようになった.

責任著者(Corresponding author)

J-STAGEへの登録はこちら（無料）