測定誤差を制御する2段階等質適応型テスト

抄録

適応型テストとは，受検者の能力値を逐次的に推定し，その能力値に応じて情報量が最も高い項目を出題するコンピュータ・テスティングの出題形式である．適応型テストは，測定誤差を増加させずに，テストの長さや受験時間を短縮できる．しかし，暴露数の減少と測定誤差の増加にはトレードオフの関係が存在する．本研究では，これらの問題を解決するため，測定誤差を制御する2段階等質適応型テストを提案する．