宇宙線中性子起因ソフトエラーに対するマルチスケールシミュレーションの高精度化 (II) TCADシミュレーションによる過渡電流応答解析

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第58回春季応用物理学関係連合講演会

セッションID: 26p-KS-2

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2011.1.0_3160

会議情報

主催: 社団法人応用物理学会

会議名: 春季応用物理学関係連合講演会

回次: 58

開催地: 神奈川工科大学

開催日: 2011/03/24 - 2011/03/27

宇宙線中性子起因ソフトエラーに対するマルチスケールシミュレーションの高精度化 (II) TCADシミュレーションによる過渡電流応答解析

*安部晋一郎, 渡辺幸信, 佐野伸行, 柴野望己, 古田博伺, 筒井将史, 上村大樹, 荒川隆彦

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キーワード: 26p-KS-2, 半導体A（シリコン）, シミュレーション, イオントラック動径分布, ソフトエラー, 宇宙線中性子

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