Si基板上GaInAsP/InP薄膜DFBレーザの初期信頼性

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 20p-S321-9

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_1096

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

Si基板上GaInAsP/InP薄膜DFBレーザの初期信頼性

*福田快, 井上大輔, 平谷拓生, 雨宮智宏, 西山伸彦, 荒井滋久

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キーワード: 20p-S321-9, 光・フォトニクス, 半導体光デバイス, 半導体レーザー，発光ダイオード, 半導体レーザ, 薄膜レーザ, Si上レーザ

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