多層構造を有する試料における各層の偏光特性の分別

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 21p-P15-2

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_840

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

多層構造を有する試料における各層の偏光特性の分別

*金蓮花, 小林大地, 近藤英一, 高和宏行, ジェローズベルナール

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キーワード: 21p-P15-2, 光・フォトニクス, 光計測技術・機器, 干渉計測，偏光計測, 偏光計測

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