応用物理学会学術講演会講演予稿集
Online ISSN : 2436-7613
第66回応用物理学会春季学術講演会
セッションID: 9a-M121-11
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横型ショットキーダイオード構造のC-V測定による低ドープn型GaNの実効ドナー密度の評価の精度に関する検討
*六野 祥平坂尾 佳祐堀田 昌宏須田 淳
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© 2019 公益社団法人 応用物理学会
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