応用物理学会学術講演会講演予稿集
Online ISSN : 2436-7613
The 69th JSAP Spring Meeting 2022
セッションID: 24p-E202-16
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Evaluation of Device Size and Array Resistance Dependence in Read Disturbance Reduction Effect by Bi-directional Read SOT-MRAM
*岸 優和山田 晃大柯 夢南河原 尊之
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